在上海新国际博览中心盛大开幕。这场展会吸引了全球工业自动化与人工智能领域的顶尖企业参展，其中安森美（onsemi）的新款图像感知技术和方案成为核心亮点。安森美在此次展会上展示了其智能电源与智能感知技术，为未来的工业应用打下了坚实的基础。

　　安森美的展品中，SWIR（短波红外）方案尤其引人注目。该方案采用了CQD量子点技术，极大降低了成本，并提高了光谱灵敏度。它不仅支持常规SWIR波段（400nm–1700nm），还扩展到了eSWIR波段（400nm–2100nm）。在监控以及硅片和半导体的检测中，短波红外检测技术正发挥日益重要的作用，为工业机器视觉应用提供了新的可能性。

　　另一个备受关注的产品是1亿分辨率的超高分辨率工业检测方案。这一解决方案拥有2.74μm的BSI背照式像素设计，显著减少了光损，并配合16通道SLVS-EC传输协议实现高速数据传输。它支持64个ROI区域，为半导体和液晶面板等多场景检测提供了高效的解决方案，展现了技术在工业应用中的强大潜力。

　　此外，安森美的新款smartiToF运动深度感知方案同样令人瞩目。基于HyperluxTMID传感器，这一方案能够对快速移动物体进行高精度测量与三维成像，深度可达30米，满足多类应用需求。其940nm时QE40%的性能，显著助力机器人做出更准确的路径决策，这一突破将有助于提升复杂工业环境中的生产效率与安全性。

　　通过关注高效智能相机检测解决方案及高速工业扫码解决方案等项目，安森美展现了在图像处理上的创新能力。基于HyperluxTMLP系列的2000万分辨率传感器，该方案大幅减少后端处理负担，致力于提供低功耗、高效率的AI检测技术。而使用200万分辨率全局快门传感器的高速工业扫码解决方案，则确保了在高速扫描场景下也能精准识别条码信息。这些技术正使得工业生产的多个环节能够实现前所未有的高效整合。

　　展会期间，安森美对AI大模型与智能传感器的结合提出了自己的见解。发言人指出，随着Deepseek等AI大模型在数据采集中的应用，智能传感器在提高数据准确性方面的重要性愈发突出。这不仅预示着开发新一代智能感光器的广阔前景，也引导了数据采集方法的变革。这一过程中的关键在于如何让图像传感器与AI技术深度融合，实现更高的智能水平。

　　在VisionChina2025展会上，安森美不仅展示了其领先的技术实力，更体现了机器视觉与人工智能的深度融合将如何为工业领域带来变革。随着工业4.0的不断深入，以及AI技术的持续发展，机器视觉技术将在智能制造中扮演更加重要的角色。安森美凭借其丰富的技术经验，展望未来，将在全球工业数字化转型的浪潮中继续引领变革，成为智能制造的核心支持者。返回搜狐，查看更多